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半導體照明中的性能測試測量技術探討(Labsphere)

[摘要]  此技術白皮書為Labsphere藍菲光學公司亞太區(qū)應用技術經理于立民博士在2010 LED前瞻技術與創(chuàng)新產品設計(廣州)研討會的演講PPT,題目為:“半導體照明中的性能測試測量技術探討”
下載說明: 文件大。1.67MB | 文件格式:PDF | 上網時間:2010-06-24
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